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          日立X射線熒光膜厚測量儀(FT)
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          X射線熒光鍍層厚度測量儀FT9200

          發布時間:2019-04-10 16:27:50  瀏覽次數:

          產品說明

          品名:X射線熒光鍍層厚度測量儀FT9200
          型號:FT9200系列
          概要:是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計。SFT系列是本公司標準機型。有適用小型部件的SFT9200、有適用大型印刷基板的SFT9255。防止樣品和儀器裝備結構不吻合的功能是本系列的標準裝備。
          特長
          FT3000系列的后續機型。
          1.依據照明,可以看到以前觀察困難的樣品。
          2.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。
          3.運用激光聚焦功能簡單實現位置的調整。
          4.微小領域的觀察也很容易。搭載了能4階段切換的可變焦距透鏡。(任選)
          5.搭載了焦點切換功能,能夠對有高度的樣品的低部分進行測定。(任選)
          規格
          型號FT9200系列
          射線源空冷式小型X射線管
          準直器型0.2x0.05mm、0.05x0.2mm
          0.1mm,0.2mm、0.3mmφ
          樣品觀察CCD照相機
          過濾器Co:自動切換
          樣品平臺移動量:220(X)x150(Y)x150(Z)mm
          X-rayStation電腦(Windows2000?)17英寸CRT

           


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